精密測試探針英文名Test probe，是精密電測試過程中必不可少的部件。在電子電路研發(fā)和生產(chǎn)的過程中，經(jīng)常需要對信號的通斷以及質(zhì)量進行測試分析，這個時候就需要使用精密測試探針將信號無損的接取出來提供給相應的ICT或者測試系統(tǒng)進行整合分析。

測試探針質(zhì)量的好壞，很大程度影響了測試的準確性以及可重復性。目前國際間比較知名的測試探針品牌有 QA，Ingun，IDI，PTR，F(xiàn)M，Leeno等。

按照測試探針的應用領(lǐng)域來區(qū)分，測試探針又分為常規(guī)ICT探針、半導體測試探針、RF高頻測試探針、大電流探針、電池接觸探針。

按照探針的結(jié)構(gòu)來區(qū)分，還可以分為常規(guī)單頭彈簧針、雙頭BGA測試針、針套轉(zhuǎn)接雙頭針等類別。

在探針的選型前期，需要重點考慮的幾個參數(shù)分別為：測試探針的間距、選擇待測對象合適的頭型、測試承載的電流、測試運動的行程以及需要選擇的彈力等。